БИК спектрометр сверхвысокого разрешения

Описание:

Спектрометр ATP7330 – это прибор сверхвысокого разрешения, разработанный компанией Optosky на основе 20-летнего опыта. Исследования и разработка спектрометра ATP7330 проводились в течение пяти лет. Спектрометр оснащен сменной отражательной дифракционной решеткой. Турель для дифракционных решеток управляется программным обеспечением, которое может точно определить положение решетки и длину волны излучения.

В серии ATP7330 используется оптимизированная оптическая система для обеспечения высокого разрешения. Множество вариантов ввода и вывода данных, масштабируемость и разнообразие результатов измерений делают спектрометр ATP7330 идеальным выбором для научных и промышленных задач. Спектрометры ATP7330 могут быть оснащены различными детекторами.

В серии ATP7330 представлены четыре модели с различными фокусными расстояниями: 210, 350, 510 и 760 мм. В отличие от спектрометров на основе призм и пропускающих дифракционных решеток, спектрометры ATP7330 работают в диапазоне от УФ до коротковолновой ИК области спектра. Решетка, спектральный диапазон и разрешение подбираются по запросу.

Возможен ввод излучения через оптоволоконный разъем SMA905 или свободное пространство, результат измерения выводится через порты USB2.0 или UART. Для питания ATP7330 требуется источник питания 12 В (постоянный ток), что обеспечивает простую интеграцию в измерительные системы. Управление производится посредством программного обеспечения.

Особенности:

• Сверхвысокое разрешение до 0,01 нм
• Выбор фокусного расстояния по запросу: 210, 350, 510, 760 мм
• Спектральный диапазон: 150 нм - 25 мкм (под заказ)
• Автоматизированная турель, 3 встроенные решетки, остальные решетки - под заказ: 150, 300, 400, 500, 600, 900, 1200, 1800, 2400, 3600 штрих/мм
• Напряжение питания: 12 В постоянного тока ± 5%
• Разрядность АЦП: 18 бит (выход - 16 бит)
• Несколько входных разъемов: оптоволоконный разъем SM905 или свободное пространство
• Поддерживает два выходных порта для вывода данных с двумя настроенными ПЗС-матрицами (Si ПЗС и InGaAs ПЗС)
• Перекрестная схема Черни-Тернера и конструкция калибровки тороидальных аберраций
• Управление (например, положение решетки, перестройка длины волны и т.д.) проводится с помощью ПК
• Разъем для вывода данных: USB2.0 и UART
• Внешний сигнал запуска через разъем SMA
• Можно выбрать несколько вариантов ПО

Применение:

• Рамановская спектроскопия
• Измерение спектров флуоресценции
• Фотолюминесцентная спектроскопия
• Спектроскопия поглощения, отражения и пропускания
• Лазерно-искровая эмиссионная спектрометрия
• Микроскопия

Примечания:

1. *: при решетке 1200 штр/мм @ 435,8 нм, ширине щели 10 мкм и высоте щели 4 мм
2. **: при решетке 1200 штр/мм @ 435,8 нм размере пикселя 14 мкм, ширине щели 20 мкм